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論理とテスト

樹下行三, 浅田邦博, 唐津修[著]. -- 岩波書店, 1985. -- (岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達[ほか]編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2). <BB00011206>
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論理とテスト

樹下行三, 浅田邦博, 唐津修[著]. -- 岩波書店, 1985. -- (岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達[ほか]編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2). <BB00011206>
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No. 巻冊次等 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 禁帯出区分 状態 返却期限日 予約件数
0001 II 生産図 ２Ｆ一般 0115724 549||I95||4 帯出可 整理済 0件
No. 0001
巻冊次等 II
所蔵館 生産図
配置場所 ２Ｆ一般
資料ID 0115724
請求記号 549||I95||4
禁帯出区分 帯出可
状態 整理済
返却期限日
予約件数 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修[著]
ロンリ ト テスト
出版・頒布事項 東京 : 岩波書店 , 1985.5
形態事項 x, 313p ; 22cm
巻号情報
国際標準図書番号 4000101846
書誌構造リンク 岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達[ほか]編||イワナミ コウザ マイクロ エレクトロニクス <BB00011033> 4 . VLSIの設計||VLSI ノ セッケイ ; 2//bb
注記 参考書: p303-305
学情ID BN00059257
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 樹下, 行三(1936-)||キノシタ, コウゾウ <AU00003620>
著者標目リンク 浅田, 邦博||アサダ, クニヒロ <AU00029406>
著者標目リンク 唐津, 修(1947-)||カラツ, オサム <AU00031073>
分類標目 電子工学 NDC8:549
分類標目 電子工学 NDC8:549.08
分類標目 NDC7:549.92
分類標目 科学技術 NDLC:ND351
分類標目 科学技術 NDLC:ND386
件名標目等 集積回路||シュウセキカイロ
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