目次
１ 表面分析序論（表面分析の目的・背景；表面分析の手法 ほか）
２ 赤外・ラマン分光法（赤外分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴；ラマン分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴 ほか）
３ Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ、ＥＳＣＡ）（ＸＰＳの原理と特徴；ＸＰＳ装置 ほか）
４ 二次イオン質量分析法（ＳＩＭＳ）（ＳＩＭＳの原理と特徴；ＳＩＭＳの装置 ほか）
５ 番行時間型二次イオン質量分析法（ＴＯＦ‐ＳＩＭＳ；Ｓｔａｔｉｃ ＳＩＭＳ）（ＴＯＦ‐ＳＩＭＳの原理と特徴；ＴＯＦ‐ＳＩＭＳの装置 ほか）
付録 主な元素の化学シフト
著者等紹介
石田英之［イシダヒデユキ］
１９７２年大阪大学大学院基礎工学研究科化学系博士課程修了・工学博士。現在、大阪大学特任教授（元（株）東レリサーチセンター代表取締役副社長）。専門は物理化学、分子分光
吉川正信［ヨシカワマサノブ］
１９８６年大阪大学大学院工学研究科応用物理学科博士課程修了・工学博士。現在、（株）東レリサーチセンター理事兼リサーチフェロー。専門は応用物理学
中川善嗣［ナカガワヨシツグ］
１９８６年京都大学大学院理学研究科物理学第一専攻修士課程修了。現在、（株）東レリサーチセンター表面解析研究部部長。専門は物性物理学、高分子物理学、表面分析
宮田洋明［ミヤタヒロアキ］
２００２年奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士課程修了。専門は光電子分光法、放射光科学、表面分析
加連明也［カレンアキヤ］
１９８４年大阪大学大学院基礎工学研究科化学系博士前期課程修了。現在、（株）東レリサーチセンター表面科学研究部部長。専門は物理化学、表面分析（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
※書籍に掲載されている著者及び編者、訳者、監修者、イラストレーターなどの紹介情報です。
感想・レビュー
※以下の感想・レビューは、株式会社ブックウォーカーの提供する「読書メーター」によるものです。
Hal
Sean
