目次
１ 回折の基礎（波動の表記法；回折積分と点像分布；キルヒホッフ回折積分とスカラー結像理論）
２ スカラー回折理論における結像（アッベの結像理論と正弦条件；コヒーレント結像 ほか）
３ 収差の考慮（波面収差；波面収差の計算方法；Ｚｅｒｎｉｋｅ多項式による波面収差の表現法；波面収差の計測方法；偏光特性を考慮した結像）
４ ベクトル回折理論における結像（スカラー回折理論の限界；物体面におけるベクトル回折 ほか）
５ 光学的超解像（超解像の定義と分類；コントラスト向上技術 ほか）
付録
著者等紹介
渋谷眞人［シブヤマサト］
１９５３年埼玉県に生まれる。１９７７年東京工業大学大学院理工学研究科修士課程修了。日本光学工業株式会社（現（株）ニコン）を経て、東京工芸大学工学部教授。博士（工学）
大木裕史［オオキヒロシ］
１９５４年愛知県に生まれる。１９７９年東京工業大学大学院理工学研究科修士課程修了。現在、（株）ニコンコアテクノロジーセンター光学技術本部光技術開発部ゼネラルマネジャー、ニコンフェロー。工学博士（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
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